1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Benefits of a vertically oriented torch—fast, accurate results, even for your toughest samples

    Technické články
    | 2018 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Benefits of a vertically oriented torch— fast, accurate results, even for your toughest samples

    Technické články
    | 2014 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Resilient Vertical Torch Means Less Cleaning, Less Downtime, and Fewer Replacements—Even for Tough Samples

    Technické články
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance

    Technické články
    | 2014 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance

    Technické články
    | 2016 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for High Productivity and Low Cost of Ownership

    Technické články
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Innovative Freeform Optical Design Improves ICP-OES Speed and Analytical Performance

    Technické články
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Characterizing sub-nanometer narrow bandpass filters using a Cary 400/500

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Shimadzu MXF-2400 X-ray Fluorescence Spectrometer

    Brožury a specifikace
    | 2015 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Agilent 5800 & 5900 ICP-OES (Chytrá cesta jak neplýtvat časem a získat správné výsledky hned napoprvé)

    Út, 19.3.2024
    Altium International

    EnviroMail™ 5/Evropa: Je zelenina pěstovaná v městských komunitních zahradách opravdu zdravá?

    Čt, 14.3.2024
    ALS Czech Republic

    Analýza anorganických látek - Metody rentgenové analýzy 3/3

    St, 27.3.2024
    2 THETA ASE
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena.