Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(94)
Forenzní analýza a toxikologie
(8)
Klinická analýza
(30)
Materiálová analýza
(122)
Instrumentace
AAS
(111)
Elementární analýzatory
(1)
FTIR Spektroskopie
(125)
Fluorescenční spektroskopie
(9)
Výrobce
ANALYTIKA
(2)
Agilent Technologies
(715)
CEM
(21)
Elemental Scientific
(14)
Autor
ANALYTIKA
(2)
Agilent Technologies
(705)
Chemické listy
(1)
Mestrelab
(12)
Typ Publikace
Aplikace
(504)
Brožury a specifikace
(95)
Manuály
(100)
Ostatní
(125)
Rok vydání
Fitted Background Correction (FBC) — fast, accurate and fully-automated background correction
Technické články
| 2019 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Fitted Background Correction (FBC)— fast, accurate and fully-automated background correction
Technické články
| 2014 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
‘Fitted’ — Fast, accurate and fully- automated background correction
Technické články
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Measuring baseline-corrected spectra on a Cary 60 UV-Vis
Technické články
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Measurement of Chromium in Environmental Waters by Zeeman Corrected Graphite Tube Atomization
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Fitting Deuterium Lamp Background Correction to Agilent 50/55 AA Instruments
Manuály
| 2012 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Simplifying Correction of Doubly Charged Ion Interferences with Agilent ICP-MS MassHunter
Technické články
| 2019 | Agilent Technologies
Software, ICP/MS
Instrumentace
Software, ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Real-time Spectral Correction of Complex Samples using FACT Spectral Deconvolution Software
Technické články
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Quantitative Analysis of Lead in Bismuth Bronze - Matrix Elements/Profile Correction and Comparison with AA
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
AAS, X-ray
Instrumentace
AAS, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
The Importance of Relative Intensity Correction of Raman Data and How to Utilize it for i-Raman Series Instruments in BWSpec
Technické články
| 2021 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
Agilent 5800 & 5900 ICP-OES (Chytrá cesta jak neplýtvat časem a získat správné výsledky hned napoprvé)
Út, 19.3.2024
Altium International
EnviroMail™ 5/Evropa: Je zelenina pěstovaná v městských komunitních zahradách opravdu zdravá?
Čt, 14.3.2024
ALS Czech Republic
Analýza anorganických látek - Metody rentgenové analýzy 3/3
St, 27.3.2024
2 THETA ASE
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena.