Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(82)
Forenzní analýza a toxikologie
(7)
Klinická analýza
(33)
Materiálová analýza
(98)
Instrumentace
AAS
(112)
Elementární analýzatory
(1)
FTIR Spektroskopie
(74)
Fluorescenční spektroskopie
(11)
Výrobce
Agilent Technologies
(479)
CEM
(13)
Elemental Scientific
(14)
GERSTEL
(1)
Autor
Agilent Technologies
(475)
Chemické listy
(3)
GERSTEL
(1)
Mestrelab Research
(7)
Typ Publikace
Aplikace
(550)
Brožury a specifikace
(69)
Manuály
(23)
Ostatní
(76)
Rok vydání
EDXRF Analysis of Cd and Pb
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Why Calibration Graphs Curve in Atomic Absorption Spectrometry
Technické články
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Fitted Background Correction (FBC) — fast, accurate and fully-automated background correction
Technické články
| 2019 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
‘Fitted’ — Fast, accurate and fully- automated background correction
Technické články
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Hamilton Syringes and Needles Selection Guide
Technické články
| N/A | P-LAB
Spotřební materiál
Instrumentace
Spotřební materiál
Výrobce
Hamilton Company
Zaměření
Fitted Background Correction (FBC)— fast, accurate and fully-automated background correction
Technické články
| 2014 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Shimadzu MXF-2400 X-ray Fluorescence Spectrometer
Brožury a specifikace
| 2015 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Selection of Operating Parameters for a New Boosted-Discharge Bismuth Lamp
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
FTIR and UV-Vis Technology for Art Conservation
Ostatní
| 2015 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Comparison of Calibration Curves of Lead, Cadmium and Chromium in Zinc Alloy and Copper Alloy
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
He kolizní mód s technologií kolizně reakční cely Agilent ORS⁴
Út, 9.4.2024
Altium International
Bojí se Váš vzorek cestovat? Nabízíme bezpečné řešení pro jeho přepravu.
Po, 8.4.2024
ALS Czech Republic
Mezníky AI: Od Turingova stroje k ChatGPT
Čt, 18.4.2024
Univerzita Karlova
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.