Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(22)
Forenzní analýza a toxikologie
(8)
Klinická analýza
(5)
Materiálová analýza
(81)
Instrumentace
AAS
(17)
FTIR Spektroskopie
(90)
Fluorescenční spektroskopie
(3)
ICP/MS
(42)
Výrobce
Agilent Technologies
(129)
Elemental Scientific
(2)
GERSTEL
(1)
Metrohm
(25)
Autor
Agilent Technologies
(125)
Chemické listy
(2)
Metrohm
(24)
Savillex
(2)
Typ Publikace
Aplikace
(128)
Brožury a specifikace
(56)
Manuály
(1)
Ostatní
(41)
Rok vydání
Film Holder Accessory
Brožury a specifikace
| 2021 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
EDXRF Analysis of Polymer Film
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Optical Characterization of Thin Films
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards
Aplikace
| 2018 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700
Aplikace
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Introducing the EDXIR-Holder: Sample Holder/Stocker for Contaminant Measurement
Technické články
| 2017 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Multilayer Film Analysis Using the AIMsight Infrared Microscope
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
Agilent 5800 & 5900 ICP-OES (Chytrá cesta jak neplýtvat časem a získat správné výsledky hned napoprvé)
Út, 19.3.2024
Altium International
EnviroMail™ 5/Evropa: Je zelenina pěstovaná v městských komunitních zahradách opravdu zdravá?
Čt, 14.3.2024
ALS Czech Republic
Analýza anorganických látek - Metody rentgenové analýzy 3/3
St, 27.3.2024
2 THETA ASE
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena.