Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(77)
Forenzní analýza a toxikologie
(20)
Klinická analýza
(35)
Materiálová analýza
(74)
Instrumentace
AAS
(59)
Elementární analýzatory
(1)
FTIR Spektroskopie
(88)
Fluorescenční spektroskopie
(9)
Výrobce
Agilent Technologies
(502)
CEM
(8)
Elemental Scientific
(10)
GERSTEL
(1)
Autor
Agilent Technologies
(492)
Chemické listy
(3)
Mestrelab
(10)
Metrohm
(84)
Typ Publikace
Aplikace
(273)
Brožury a specifikace
(139)
Manuály
(54)
Ostatní
(162)
Rok vydání
Lead in lead-free solder – EDX-720
Ostatní
| 2006 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
EDXRF Analysis of Lead in Lead-Free Solder Materials
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Free your ICP-MS Workflow From Common Time Traps
Ostatní
| 2020 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Fluorescence-free 785 nm material identification with MIRA XTR DS
Technické články
| 2021 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Nebezpečné látky
Measurement of Lead in Lead-Free Solder by ICP-AES, FAAS and EDX
Aplikace
| 2012 | Shimadzu
AAS, MP/ICP-AES, X-ray
Instrumentace
AAS, MP/ICP-AES, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
EDXRF Analysis of Lead, Cadmium, Silver, Copper in Lead-Free Solder Materials
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
A new approach to sample preparation free micro ATR FTIR chemical imaging of polymer laminates
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
APWC: Interference-free Measurement of Trace Mercury in Tungsten-rich Cosmetic Sample using ICP-QQQ
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Ostatní
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Determination of antioxidant capacity in human serum using the Agilent Cary Eclipse for the ORAC assay
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Klinická analýza
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
Agilent 5800 & 5900 ICP-OES (Chytrá cesta jak neplýtvat časem a získat správné výsledky hned napoprvé)
Út, 19.3.2024
Altium International
EnviroMail™ 5/Evropa: Je zelenina pěstovaná v městských komunitních zahradách opravdu zdravá?
Čt, 14.3.2024
ALS Czech Republic
Vědu dělají lidé a lidi pohání vášeň. Vášeň sama ale pro dobrou vědu nestačí, říká Vinicius Santana
Čt, 28.3.2024
CEITEC
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena.