Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(6)
Forenzní analýza a toxikologie
(3)
Klinická analýza
(3)
Materiálová analýza
(18)
Instrumentace
AAS
(13)
FTIR Spektroskopie
(6)
ICP/MS
(29)
ICP/MS/MS
(12)
Výrobce
Agilent Technologies
(181)
CEM
(7)
Elemental Scientific
(7)
GERSTEL
(1)
Autor
Agilent Technologies
(179)
Metrohm
(1)
Savillex
(1)
Shimadzu
(46)
Typ Publikace
Aplikace
(113)
Brožury a specifikace
(21)
Manuály
(11)
Ostatní
(25)
Rok vydání
Dedicated axial or radial plasma view for superior speed and performance
Technické články
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Fast Analysis of Water Samples Comparing Axially-and Radially- Viewed CCD Simultaneous ICP-OES
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Determination of Wear Metals in Lubricating Oil on The Liberty Series II ICP-OES With the Axially-Viewed Plasma
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
The Latest Advances in Axially Viewed Simultaneous ICP-OES for Elemental Analysis
Technické články
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Determination of Rhodium in Catalyst Oil and Aqueous Samples Using the Agilent 710 ICP-OES
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Determination of Trace Impurities in High-Purity Copper by Sequential ICP-OES with Axial Viewing
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance
Technické články
| 2014 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance
Technické články
| 2016 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for High Productivity and Low Cost of Ownership
Technické články
| 2019 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Determination of Lead in Unleaded Gasoline on the Liberty Series II ICP-OES with the Axially-Viewed Plasma
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou
Út, 16.4.2024
Altium International
Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami
Po, 15.4.2024
ANALYTIKA
Aktualizace služeb: Úspěšná akreditace a rozšíření nabídky
St, 24.4.2024
ALS Czech Republic
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.