Knihovna | LabRulez ICPMS

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative analysis of tint in polymer pellets and disks

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)

Aplikace

| N/A | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

The fluorescent properties of a stalactite sample using the Agilent Cary Eclipse fiber-optic probe accessory

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

Fluorescenční spektroskopie

Instrumentace

Fluorescenční spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Quantitative Analysis of Elements in Small Quantity of Organic Matter by EDXRF - New Feature of Background FP Method

Aplikace

| 2013 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Průmysl a chemie

WCPS: Fundamental Studies of a Nitrogen Microwave Plasma for Analytical Emission Spectroscopy

Postery

| 2017 | Agilent Technologies

MP/ICP-AES

Instrumentace

MP/ICP-AES

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer

Brožury a specifikace

| 2022 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

EDXRF Analysis of Cd and Pb

Aplikace

| N/A | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

The Benefits of Raman Spectroscopy for the Identification and Characterization of Polymers

Technické články

| N/A | Metrohm

RAMAN Spektrometrie

Instrumentace

RAMAN Spektrometrie

Výrobce

Metrohm

Zaměření

Průmysl a chemie

Fluorescence-free 785 nm material identification with MIRA XTR DS

Technické články

| 2021 | Metrohm

RAMAN Spektrometrie

Instrumentace

RAMAN Spektrometrie

Výrobce

Metrohm

Zaměření

Nebezpečné látky

Před
1
2
...
Další

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Quantitative analysis of tint in polymer pellets and disks

X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)

The fluorescent properties of a stalactite sample using the Agilent Cary Eclipse fiber-optic probe accessory

Quantitative Analysis of Elements in Small Quantity of Organic Matter by EDXRF - New Feature of Background FP Method

WCPS: Fundamental Studies of a Nitrogen Microwave Plasma for Analytical Emission Spectroscopy

Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer

EDXRF Analysis of Cd and Pb

The Benefits of Raman Spectroscopy for the Identification and Characterization of Polymers

Fluorescence-free 785 nm material identification with MIRA XTR DS

Mohlo by Vás zajímat

Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou

Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami

Aktualizace služeb: Úspěšná akreditace a rozšíření nabídky