Knihovna | LabRulez ICPMS

Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures

Aplikace

| 2018 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

EDXRF Analysis of Polymer Film

Aplikace

| N/A | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards

Aplikace

| 2018 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)

Aplikace

| N/A | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Void Analysis and Shape Analysis of Automobile Inverter Components with X-Ray CT System

Aplikace

| 2023 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Direct Identification of Packaged Substances using the Agilent Resolve Handheld Raman Analyzer

Aplikace

| 2023 | Agilent Technologies

RAMAN Spektrometrie

Instrumentace

RAMAN Spektrometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Forenzní analýza a toxikologie

Molecular Spectroscopy Application eHandbook

Příručky

| 2017 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Průmysl a chemie, Materiálová analýza

Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

Aplikace

| 2022 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures

The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy

EDXRF Analysis of Polymer Film

Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards

X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)

Void Analysis and Shape Analysis of Automobile Inverter Components with X-Ray CT System

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Direct Identification of Packaged Substances using the Agilent Resolve Handheld Raman Analyzer

Molecular Spectroscopy Application eHandbook

Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

Mohlo by Vás zajímat

Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou

Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami

Aktualizace služeb: Úspěšná akreditace a rozšíření nabídky