ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Jednodušší, rychlejší a bezpečnější mikrovlnný rozklad s PreeKem M6

    Ostatní
    | 2021 | Altium International (HPST) (PreeKem)
    Příprava vzorků
    Instrumentace
    Příprava vzorků
    Výrobce
    PreeKem
    Zaměření

    Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS

    Ostatní
    | 2012 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    PFA Cyclonic Spray Chamber for ICP-OES and ICP-MS

    Brožury a specifikace
    | 2014 | Savillex
    Spotřební materiál, ICP/MS, ICP/OES
    Instrumentace
    Spotřební materiál, ICP/MS, ICP/OES
    Výrobce
    Savillex
    Zaměření

    Mikrovlnné rozkladné systémy PreeKem

    Prezentace
    | 2022 | Altium International (HPST) (PreeKem)
    Příprava vzorků, Mikrovlnný rozklad
    Instrumentace
    Příprava vzorků, Mikrovlnný rozklad
    Výrobce
    PreeKem
    Zaměření

    Ion Lens Design

    Technické články
    | 2021 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Agilent 55B AA spectrometer

    Brožury a specifikace
    | 2019 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    General Features of the New Agilent 7500 ICP-MS

    Brožury a specifikace
    | 2000 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    VC Ultra Acid Vapor Cleaning System

    Brožury a specifikace
    | 2020 | Savillex
    Příprava vzorků
    Instrumentace
    Příprava vzorků
    Výrobce
    Savillex
    Zaměření

    Micro-Raman Spectroscopy in Thin Section Analysis of Rock Mineralogy

    Aplikace
    | 2019 | Metrohm
    RAMAN Spektrometrie
    Instrumentace
    RAMAN Spektrometrie
    Výrobce
    Metrohm
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)

    Aplikace
    | 2001 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče
     

    Mohlo by Vás zajímat


    He kolizní mód s technologií kolizně reakční cely Agilent ORS⁴

    Út, 9.4.2024
    Altium International

    Bojí se Váš vzorek cestovat? Nabízíme bezpečné řešení pro jeho přepravu.

    Po, 8.4.2024
    ALS Czech Republic

    Mezníky AI: Od Turingova stroje k ChatGPT

    Čt, 18.4.2024
    Univerzita Karlova
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.