Aplikace z oblasti Materiálová analýza se zaměřením na MP/ICP-AES | LabRulez ICPMS
Measurement of Lead in Lead-Free Solder by ICP-AES, FAAS and EDX
Aplikace
| 2012 | Shimadzu
AAS, MP/ICP-AES, X-ray
Instrumentace
AAS, MP/ICP-AES, X-ray
Zaměření
Materiálová analýza
Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer
Aplikace
| 2016 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza