ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM

Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM

Srdečně vás zveme k účasti na tomto webináři věnovaném hyperspektrální charakterizaci pokročilých materiálů pomocí mikroskopie atomárních sil (AFM).
Út, 16.12.2025 17:00 CET
Bruker
tag
share
more
Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM
Understanding the Difference Between Type and Control Standards in Elemental Analysis

Understanding the Difference Between Type and Control Standards in Elemental Analysis

Zjistěte, jak kontrolní standardy zlepšují kalibraci, přesnost a stabilitu kontroly kvality v analýzách OES a XRF s obloukem/jiskrou, a to včetně praktických tipů pro integraci softwaru.
Út, 16.12.2025 17:00 CET
SPECTRO Analytical Instruments
tag
share
more
Understanding the Difference Between Type and Control Standards in Elemental Analysis
Analysis of aqueous Environmental samples using UV-Vis instrumentation

Analysis of aqueous Environmental samples using UV-Vis instrumentation

Objevte ještě více analýz, které můžete provést s Cary 60 UV-Vis v oblasti životního prostředí.
Út, 16.12.2025 21:30 CET
Agilent Technologies
tag
share
more
Analysis of aqueous Environmental samples using UV-Vis instrumentation
Microplastics Identification: Tips & Tricks Workshop

Microplastics Identification: Tips & Tricks Workshop

Na tomto semináři bude ukázán pracovní postup analýzy vzorku mikroplastů na přístroji Agilent 8700 Laser Direct Infrared Imaging (LDIR).
Čt, 18.12.2025 20:00 CET
Agilent Technologies
tag
share
more
Microplastics Identification: Tips & Tricks Workshop
Elemental Analysis of Alloy Samples on an Agilent ICP-OES

Elemental Analysis of Alloy Samples on an Agilent ICP-OES

Zjistěte, jak systém Agilent ICP-OES umožňuje přesnou analýzu slitin tím, že řeší spektrální interference a požadavky na široký dynamický rozsah, čímž zajišťuje spolehlivé výsledky pro průmysl.
Út, 6.1.2026 21:30 CET
Agilent Technologies
tag
share
more
Elemental Analysis of Alloy Samples on an Agilent ICP-OES
Characterization of Composite Materials by Thermal Analysis

Characterization of Composite Materials by Thermal Analysis

Zjistěte, jak termická analýza (DSC, TGA, TMA, DMA) charakterizuje moderní kompozity a podporuje tak pracovní postupy v oblasti výzkumu a vývoje a kontroly kvality.
Čt, 8.1.2026 08:00 CET
Mettler-Toledo
tag
share
more
Characterization of Composite Materials by Thermal Analysis
The importance of controlling contamination and choosing the right sample introduction system even before you start your analysis to achieve the best detection limits

The importance of controlling contamination and choosing the right sample introduction system even before you start your analysis to achieve the best detection limits

Ještě před zahájením analýzy je prvním krokem kontrola kontaminace životního prostředí a výběr správného systému zavádění vzorků.
Út, 13.1.2026 21:30 CET
Agilent Technologies
tag
share
more
The importance of controlling contamination and choosing the right sample introduction system even before you start your analysis to achieve the best detection limits
Effortless UV-VIS Analysis with Long Pathlength Measurements

Effortless UV-VIS Analysis with Long Pathlength Measurements

Díky flexibilním možnostem měření vzorků přístroje Cary 3500 je tato analýza koncentrace snadnější než kdykoli předtím.
Čt, 15.1.2026 20:00 CET
Agilent Technologies
tag
share
more
Effortless UV-VIS Analysis with Long Pathlength Measurements
Tips and Tricks Workshop on ICP-OES: Smarter Method Development

Tips and Tricks Workshop on ICP-OES: Smarter Method Development

Techniky, jak dosáhnout nejlepší citlivosti a detekčních limitů pomocí ladicích technik a strategií.
Čt, 22.1.2026 20:00 CEST
Agilent Technologies
tag
share
more
Tips and Tricks Workshop on ICP-OES: Smarter Method Development
Measuring Diffuse Powders and Films With UV-VIS-NIR

Measuring Diffuse Powders and Films With UV-VIS-NIR

Probereme příslušenství pro měření difuzní odrazivosti (DRA) a univerzální měřicí příslušenství (UMA) společnosti Agilent pro měření úhlového rozložení odraženého světla.
Út, 27.1.2026 21:30 CET
Agilent Technologies
tag
share
more
Measuring Diffuse Powders and Films With UV-VIS-NIR
 

Mohlo by Vás zajímat

Podcast CHEmic #69 – Když na molekuly svítíme, tak tančí rukou disko a nohou techno

Podcast CHEmic #69 – Když na molekuly svítíme, tak tančí rukou disko a nohou techno

Pá, 12.12.2025
Ústav organické chemie a biochemie AV ČR
Vodný kalibrační roztok ASTASOL® INT-MIX3

Vodný kalibrační roztok ASTASOL® INT-MIX3

Čt, 11.12.2025
ANALYTIKA
OBCHODNÍ REFERENT/KA pro obchod s laboratorními přístroji v oblasti chromatografie, hmotnostní spektrometrie, atomové a molekulové spektroskopie

OBCHODNÍ REFERENT/KA pro obchod s laboratorními přístroji v oblasti chromatografie, hmotnostní spektrometrie, atomové a molekulové spektroskopie

St, 10.12.2025
Altium International
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.