Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM
Srdečně vás zveme k účasti na tomto webináři věnovaném hyperspektrální charakterizaci pokročilých materiálů pomocí mikroskopie atomárních sil (AFM).
Út, 16.12.2025 17:00 CET
Bruker
Understanding the Difference Between Type and Control Standards in Elemental Analysis
Zjistěte, jak kontrolní standardy zlepšují kalibraci, přesnost a stabilitu kontroly kvality v analýzách OES a XRF s obloukem/jiskrou, a to včetně praktických tipů pro integraci softwaru.
Út, 16.12.2025 17:00 CET
SPECTRO Analytical Instruments
Analysis of aqueous Environmental samples using UV-Vis instrumentation
Objevte ještě více analýz, které můžete provést s Cary 60 UV-Vis v oblasti životního prostředí.
Na tomto semináři bude ukázán pracovní postup analýzy vzorku mikroplastů na přístroji Agilent 8700 Laser Direct Infrared Imaging (LDIR).
Čt, 18.12.2025 20:00 CET
Agilent Technologies
Elemental Analysis of Alloy Samples on an Agilent ICP-OES
Zjistěte, jak systém Agilent ICP-OES umožňuje přesnou analýzu slitin tím, že řeší spektrální interference a požadavky na široký dynamický rozsah, čímž zajišťuje spolehlivé výsledky pro průmysl.
Út, 6.1.2026 21:30 CET
Agilent Technologies
Characterization of Composite Materials by Thermal Analysis
Zjistěte, jak termická analýza (DSC, TGA, TMA, DMA) charakterizuje moderní kompozity a podporuje tak pracovní postupy v oblasti výzkumu a vývoje a kontroly kvality.
Čt, 8.1.2026 08:00 CET
Mettler-Toledo
The importance of controlling contamination and choosing the right sample introduction system even before you start your analysis to achieve the best detection limits
Ještě před zahájením analýzy je prvním krokem kontrola kontaminace životního prostředí a výběr správného systému zavádění vzorků.
Út, 13.1.2026 21:30 CET
Agilent Technologies
Effortless UV-VIS Analysis with Long Pathlength Measurements
Díky flexibilním možnostem měření vzorků přístroje Cary 3500 je tato analýza koncentrace snadnější než kdykoli předtím.
Čt, 15.1.2026 20:00 CET
Agilent Technologies
Tips and Tricks Workshop on ICP-OES: Smarter Method Development
Techniky, jak dosáhnout nejlepší citlivosti a detekčních limitů pomocí ladicích technik a strategií.
Čt, 22.1.2026 20:00 CEST
Agilent Technologies
Measuring Diffuse Powders and Films With UV-VIS-NIR
Probereme příslušenství pro měření difuzní odrazivosti (DRA) a univerzální měřicí příslušenství (UMA) společnosti Agilent pro měření úhlového rozložení odraženého světla.