Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza od Agilent Technologies | LabRulez ICPMS
Analysis of Surfactants Using the Agilent 500 Ion Trap LC/MS
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
LC/MS, LC/IT
Instrumentace
LC/MS, LC/IT
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Measuring the reflectance of very small samples using the Agilent Cary 60 Remote Diffuse Reflectance Accessory (DRA)
Aplikace
| 2012 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Determination of UV Filters in Sunscreens Using Agilent Captiva EMR—Lipid Cleanup by HPLC
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
Příprava vzorků, Spotřební materiál, HPLC
Instrumentace
Příprava vzorků, Spotřební materiál, HPLC
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Polymers and Rubbers Application Compendium
Příručky
| 2010 | Agilent Technologies
HPLC, LC/MS, SFC, GPC/SEC, LC/SQ, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
HPLC, LC/MS, SFC, GPC/SEC, LC/SQ, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
The Measurement of High Optical Densities in the Near-Infrared
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.