ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Applications of FTIR Throughout the Lithium Ion Battery Life Cycle

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Controlling the Swelling of Polymer Coated Gold Nanoparticles

    Aplikace
    | 2019 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection

    Aplikace
    | 2022 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Agilent 4300 Handheld Portable FTIR

    Aplikace
    | 2016 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Identification and Evaluation of Coatings Using Hand-held FTIR

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

    Aplikace
    | 2020 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče

    Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

    Aplikace
    | 2020 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    The deep ultraviolet spectroscopic properties of a next-generation photoresist

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče

    Analysis of steel and its alloys using the GB/T 20125-2006 standard and an Agilent 5100 ICP-OES in dual view mode

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Materiálová analýza

    ANALYSIS OF EXTRACTABLE AND LEACHABLE METALS IN PLASTIC MATERIALS OF CONSTRUCTION AS PER USP <661.1> ACID EXTRACTION PROCEDURE USING THE AGILENT 5110 VDV ICP-OES

    Aplikace
    | 2016 | Agilent Technologies
    LC/Orbitrap, ICP/OES
    Instrumentace
    LC/Orbitrap, ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024

    Út, 14.5.2024
    Altium International

    Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru

    Po, 13.5.2024
    ANALYTIKA

    Pozvánka na Laborexpo - stánek SHIMADZU

    Ne, 12.5.2024
    SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.