Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
AGILENT AEROSPACE ANALYZER
Ostatní
| 2016 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
At site rock and mineral measurement using a handheld Agilent FTIR analyzer
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Determination of Elements in Ternary Material Nickel-Cobalt-Manganese Hydride
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
ANALYSIS OF EXTRACTABLE AND LEACHABLE METALS IN PLASTIC MATERIALS OF CONSTRUCTION AS PER USP <661.1> ACID EXTRACTION PROCEDURE USING THE AGILENT 5110 VDV ICP-OES
Aplikace
| 2016 | Agilent Technologies
LC/Orbitrap, ICP/OES
Instrumentace
LC/Orbitrap, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Fast, Accurate, Robust Analysis of Multiple Elements in Steel by ICP-OES
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
WCPS: Investigation of Microplastic Size and Number Changes During Simulated UV-Degradation Using Single Particle ICP-MS/MS
Postery
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Composite thermal damage – correlation of short beam shear data with FTIR spectroscopy
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of steel and its alloys using the GB/T 20125-2006 standard and an Agilent 5100 ICP-OES in dual view mode