Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
The Measurement of High Optical Densities in the Near-Infrared
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Agilent ASMS 2020 Posters Book
Postery
| 2020 | Agilent Technologies (ASMS)
GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, HeadSpace, Příprava vzorků, GC/SQ, GC/Q-TOF, Iontová mobilita, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, LC/SQ
Instrumentace
GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, HeadSpace, Příprava vzorků, GC/SQ, GC/Q-TOF, Iontová mobilita, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, LC/SQ
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Forenzní analýza a toxikologie, Farmaceutická analýza, Proteomika, Materiálová analýza, Klinická analýza
Application of Spatially Offset Raman Spectroscopy to In-Container Testing of Raw Materials for PIC/S GMP Annex 8 Using the Agilent RapID Raman System
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Single particle analysis of nanomaterials with agilent ICP-MS
Postery
| N/A | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
WCPS: Determination of ultra-trace level impurities in high-purity metal samples by ICP-QQQ
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
WCPS: Accurate determination of Eu, and Sm in ultra-pure barium carbonate materials by ICP-QQQ
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.