Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Materiálová analýza
Materiálová analýza
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
(1)
NIR Spektroskopie
(3)
UV–VIS Spektrofotometrie
(4)
X-ray
(7)
Výrobce
Shimadzu
Shimadzu
Autor
Shimadzu
(12)
Typ Publikace
Aplikace
Brožury a specifikace
(2)
Ostatní
(2)
Příručky
(2)
Aplikace
Rok vydání
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Orientation Measurement of Polymers
Aplikace
| 2020 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700
Aplikace
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Identification of Copper Concentrates Using EDX and XRD
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
X-ray, XRD
Instrumentace
X-ray, XRD
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
EDXRF Analysis of Lead in Lead-Free Solder Materials
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
EDXRF Analysis of Lead, Cadmium, Silver, Copper in Lead-Free Solder Materials
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Black Rubber Diaphragm by FTIR and EDX
Aplikace
| N/A | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
High-Speed Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction (Linear Guide)
Aplikace
| 2019 | Shimadzu
XRD
Instrumentace
XRD
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700
Aplikace
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Observation of Wireless Earphones Using a Microfocus X-ray Inspection System
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Regulatory Calculations Using the Spectral Evaluation Function: Evaluating Spectacle Lenses as Specified by JIS T7333
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Před
1
2
Další
Mohlo by Vás zajímat
Představení nového ICP‑MS 7900: jedinečná technologie a výkon
Út, 28.5.2024
Altium International
Najděte svou vysněnou práci v analytické chemii s LabRulez KARIÉRA!
Ne, 26.5.2024
LabRulez
„První komunikátoři vědy pro mě byli už učitelé na střední,“ říká výzkumnice a laureátka ceny Učené společnosti Barbora Rudzanová
Ne, 2.6.2024
RECETOX - Centrum pro výzkum toxických látek v prostředí
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.