Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
RAPID DETERMINATION OF VOLATILE COMPOUND CONTENT USING MULTIPLE HEADSPACE EXTRACTION-SIFT-MS
Aplikace
| N/A | Anatune
HeadSpace, SIFT-MS
Instrumentace
HeadSpace, SIFT-MS
Výrobce
GERSTEL, Syft Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
RAPID SCREENING OF VOLATILE COMPOUNDS IN PAPERBOARD USING STATIC HEADSPACE-SIFT-MS
Aplikace
| N/A | Syft Technologies
HeadSpace, SIFT-MS
Instrumentace
HeadSpace, SIFT-MS
Výrobce
GERSTEL, Syft Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
RAPID ODOUR SCREENING OF PAPERBOARD USING STATIC HEADSPACE-SIFT-MS
Aplikace
| N/A | Syft Technologies
HeadSpace, SIFT-MS
Instrumentace
HeadSpace, SIFT-MS
Výrobce
Syft Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Programmed-temperature vaporiser injector as a new analytical tool for combined thermal desorption-pyrolysis of solid samples Application to geochemical analysis