ICPMS
Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Language English

    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    EDX-7200 New Primary Filter - Quantitative Analysis of Titanium Dioxide in Antibacterial Coatings

    Aplikace
    | 2023 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    RoHS Screening Analysis by EDX

    Aplikace
    | 2022 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Precision Analysis of Toxic Elements in Plastic by ICPE-9800 Series

    Aplikace
    | 2014 | Shimadzu
    MP/ICP-AES
    Instrumentace
    MP/ICP-AES
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Solutions for Children’s Product Testing

    Technické články
    | 2010 | Agilent Technologies
    GC/MSD, GC/IT, ICP/OES
    Instrumentace
    GC/MSD, GC/IT, ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    ANALYSIS OF EXTRACTABLE AND LEACHABLE METALS IN PLASTIC MATERIALS OF CONSTRUCTION AS PER USP <661.1> ACID EXTRACTION PROCEDURE USING THE AGILENT 5110 VDV ICP-OES

    Aplikace
    | 2016 | Agilent Technologies
    LC/Orbitrap, ICP/OES
    Instrumentace
    LC/Orbitrap, ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Simultaneous Analysis of Trace and Major Elements in Iron and Steel by ICPE-9820

    Aplikace
    | 2014 | Shimadzu
    MP/ICP-AES
    Instrumentace
    MP/ICP-AES
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    WCPS: Investigation of Microplastic Size and Number Changes During Simulated UV-Degradation Using Single Particle ICP-MS/MS

    Postery
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí, Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat

    ‌

    Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024

    Út, 14.5.2024
    Altium International
    ‌

    Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru

    Po, 13.5.2024
    ANALYTIKA
    ‌

    Pozvánka na Laborexpo - stánek SHIMADZU

    Ne, 12.5.2024
    SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
    ‌
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.