Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(1)
Materiálová analýza
Ostatní
(1)
Polovodiče
(2)
Materiálová analýza
Instrumentace
AAS
(1)
FTIR Spektroskopie
(21)
ICP/MS
(9)
ICP/MS/MS
(3)
Výrobce
Agilent Technologies
(34)
Metrohm
(1)
PreeKem
(1)
Shimadzu
(17)
Autor
Agilent Technologies
(34)
Metrohm
(1)
Shimadzu
(17)
Thermo Fisher Scientific
(2)
Typ Publikace
Aplikace
Brožury a specifikace
(9)
Ostatní
(13)
Postery
(4)
Aplikace
Rok vydání
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Micro-Contaminant Analysis Using AIMsight Infrared Microscope
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Non-Destructive Analysis of Substrates and Contaminants by FTIR with Specular Reflectance Interface
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Detection of trace contamination on metal surfaces using the handheld Agilent 4100 ExoScan FTIR
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Quantifying "Silent Change" Using EDXIR-Analysis Software: EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Ultraviolet-Degraded Plastic by Plastic Analyzer
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Ultraviolet-Degraded Plastic by Plastic Analyzer
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Direct measurement of trace rare earth elements (REEs) in high-purity REE oxide using the Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS with MS/MS mode
Aplikace
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Reduced Variable Multivariate Analysis for Material Identification with the NanoRam®-1064
Aplikace
| 2019 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
High-Speed Mapping Measurement of Micro Sample Using IRXross™/AIM-9000
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024
Út, 14.5.2024
Altium International
Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru
Po, 13.5.2024
ANALYTIKA
Pozvánka na Laborexpo - stánek SHIMADZU
Ne, 12.5.2024
SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.