Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Materiálová analýza
Ostatní
(1)
Polovodiče
(2)
Potraviny a zemědělství
(5)
Materiálová analýza
Instrumentace
AAS
(4)
FTIR Spektroskopie
(15)
ICP/MS
(15)
ICP/MS/MS
(6)
Výrobce
Agilent Technologies
(40)
Metrohm
(1)
PreeKem
(5)
Shimadzu
(49)
Autor
Agilent Technologies
(40)
Metrohm
(1)
Shimadzu
(49)
Thermo Fisher Scientific
(1)
Typ Publikace
Aplikace
Brožury a specifikace
(8)
Manuály
(2)
Ostatní
(13)
Aplikace
Rok vydání
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Measuring Multiple Elements in Nanoparticles using spICP-MS
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Materiálová analýza, Ostatní
Determination of Elements in Ternary Material Nickel-Cobalt-Manganese Hydride
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
RoHS Screening Analysis by EDX
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Determination of Elemental Impurities in Graphite-based Anodes using the Agilent 5110 ICP-OES
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of CIGS Solar Cell by ICPE-9000
Aplikace
| N/A | Shimadzu
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards
Aplikace
| 2018 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
EDXRF Analysis of Chromium, Lead and Cadmium in Metals (Brass)
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Laser Ablation (LA)-ICP-MS for Production Control of Nickel Alloys
Aplikace
| 2005 | Agilent Technologies
ICP/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
EDXRF Analysis of Lead in Lead-Free Solder Materials
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
Virus napadající kokolitku – mořskou řasu, která ovlivňuje celosvětové klima
Ne, 19.5.2024
CEITEC
LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)
Čt, 16.5.2024
LabRulez
Podcast CHEmic #27 – Je třeba změnit výuku chemie i učebnice, myslí si Adam Jaroš z ÚOCHB
Čt, 16.5.2024
Ústav organické chemie a biochemie AV ČR
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.