Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Materiálová analýza
Polovodiče
(2)
Průmysl a chemie
(1)
Materiálová analýza
Instrumentace
MS Imaging
(1)
NIR Spektroskopie
(14)
Příprava vzorků
(1)
Software
(1)
Výrobce
Agilent Technologies
(15)
Metrohm
(1)
Shimadzu
(9)
Thermo Fisher Scientific
(3)
Autor
Agilent Technologies
(15)
Metrohm
(1)
Shimadzu
(9)
Thermo Fisher Scientific
(3)
Typ Publikace
Aplikace
Brožury a specifikace
(5)
Ostatní
(4)
Postery
(3)
Aplikace
Rok vydání
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Optical Characterization of Thin Films
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700
Aplikace
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Surface Analysis of PET Film Using a Benchtop MALDI-TOF Mass Spectrometer
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
MALDI, LC/TOF, LC/MS
Instrumentace
MALDI, LC/TOF, LC/MS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Surface Layer MALDI-MSI of Synthetic Materials on a Molecular Level
Aplikace
| 2020 | Bruker
MALDI, MS Imaging, LC/TOF, LC/MS, LC/MS/MS
Instrumentace
MALDI, MS Imaging, LC/TOF, LC/MS, LC/MS/MS
Výrobce
Bruker
Zaměření
Materiálová analýza
Pass/Fail Judgment of Automotive Window Tint Film Using the Spectral Evaluation Function of LabSolutions™ UV-Vis Software
Aplikace
| 2019 | Shimadzu
Software, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
Software, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Optical Properties of Films and Glasses Used to Protect Smartphones
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700
Aplikace
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)
Čt, 16.5.2024
LabRulez
SHIMADZU: Pololetní události – Příležitosti k setkání s Vámi
St, 15.5.2024
SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
Odešli tři držitelé čestných doktorátů Univerzity Pardubice
Út, 28.5.2024
Univerzita Pardubice
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.