ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Iron and Steel Analysis Using ICPE-9000

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    MP/ICP-AES
    Instrumentace
    MP/ICP-AES
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Leach Test for Phenol in Rubber Nipples

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Composite thermal damage – correlation of short beam shear data with FTIR spectroscopy

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Multilayer Film Analysis Using the AIRsight Infrared Raman Microscope

    Aplikace
    | 2023 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

    Aplikace
    | 2020 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče

    Quantifying "Silent Change" Using EDXIR-Analysis Software: EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

    Aplikace
    | 2017 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    An Example of Observing Reduction Gear Using the Microfocus X-Ray CT System

    Aplikace
    | 2023 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quantitative analysis of tint in polymer pellets and disks

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    High sensitivity analysis of SiO2 nanoparticles using the Agilent 8900 ICP-QQQ in MS/MS mode

    Aplikace
    | 2016 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024

    Út, 14.5.2024
    Altium International

    Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru

    Po, 13.5.2024
    ANALYTIKA

    Pozvánka na Laborexpo - stánek SHIMADZU

    Ne, 12.5.2024
    SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.