Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
RAPID, NON-DESTRUCTIVE MEASUREMENT OF THE Tg OF EPOXY FRP PARTS WITH A HANDHELD FTIR
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Solutions for Plastic Evaluation
Příručky
| 2013 | Shimadzu
GC, GC/MSD, HeadSpace, GC/SQ, MALDI, HPLC, LC/TOF, LC/MS, LC/SQ, LC/IT
Instrumentace
GC, GC/MSD, HeadSpace, GC/SQ, MALDI, HPLC, LC/TOF, LC/MS, LC/SQ, LC/IT
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Portable Raman Spectroscopy for Art & Archaeology Applications
Technické články
| 2020 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
A new approach to sample preparation free micro ATR FTIR chemical imaging of polymer laminates
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Rechargeable Lithium-Ion Battery Evaluation
Brožury a specifikace
| 2017 | Shimadzu
GC, GC/MSD, GC/SQ, HPLC, ICP/MS, ICP/OES, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, XRD
Instrumentace
GC, GC/MSD, GC/SQ, HPLC, ICP/MS, ICP/OES, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, XRD
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Measuring the reflective properties of architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR with 10 degree Specular Refl ectance Accessory
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Rapid determination of residual N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) in lithium battery electrodes by headspace gas chromatography
Aplikace
| 2022 | Thermo Fisher Scientific
GC, HeadSpace
Instrumentace
GC, HeadSpace
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.