ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Measurement of Diffuse Reflection from Catalyst Powders

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Direct measurement of trace rare earth elements (REEs) in high-purity REE oxide using the Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS with MS/MS mode

    Aplikace
    | 2012 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Near-infrared spectroscopy: Comparison of techniques

    Technické články
    | 2017 | Metrohm
    NIR Spektroskopie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie
    Výrobce
    Metrohm
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Leach Test for Phenol in Rubber Nipples

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Lead in lead-free solder – EDX-720

    Ostatní
    | 2006 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Rapid identification of o-rings, seals and gaskets using the handheld Agilent 4100 ExoScan FTIR

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Raman Spectroscopy in Archaeological Studies

    Technické články
    | N/A | Metrohm
    RAMAN Spektrometrie
    Instrumentace
    RAMAN Spektrometrie
    Výrobce
    Metrohm
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Handheld FTIR spectroscopy applications using the Agilent ExoScan 4100 FTIR with diffuse sample interface

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Aktualizace služeb: Úspěšná akreditace a rozšíření nabídky

    St, 24.4.2024
    ALS Czech Republic

    Pozvánka na LABOREXPO & PROCESEXPO 2024

    Út, 23.4.2024
    CHEMAGAZÍN

    Aktuality v oblasti servisních služeb a zákaznických školení (M. Juříček) - NPI2023

    Út, 23.4.2024
    Altium International
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.