ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    High-Speed Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction (Linear Guide)

    Aplikace
    | 2019 | Shimadzu
    XRD
    Instrumentace
    XRD
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Identification of Copper Concentrates Using EDX and XRD

    Aplikace
    | 2021 | Shimadzu
    X-ray, XRD
    Instrumentace
    X-ray, XRD
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    High sensitivity analysis of SiO2 nanoparticles using the Agilent 8900 ICP-QQQ in MS/MS mode

    Aplikace
    | 2016 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Materiálová analýza

    Tableware Analysis Using ICPE-9000

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    MP/ICP-AES
    Instrumentace
    MP/ICP-AES
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Monitoring of Adhesive Curing using Time Course Measurement with FTIR Spectroscopy

    Aplikace
    | 2023 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Nondestructive Elemental Analysis of Historical Materials (Old Metal Specimens) by X-Ray Fluorescence Spectrometer

    Aplikace
    | 2021 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Multifaceted Evaluation of Gemstones Using UV-Vis and EDXRF

    Aplikace
    | 2023 | Shimadzu
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, X-ray
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Nový systém čištění vody ELGA Purelab Flex

    St, 8.5.2024
    Česká voda – MEMSEP, a.s.

    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International

    LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)

    Čt, 16.5.2024
    LabRulez
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.