ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Rapid Analysis of Minerals Using the Agilent Cary 630 FTIR With Diamond ATR

    Ostatní
    | 2014 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    QuAntItAtIve determInAtIon of common types of Asbestos by dIffuse reflectAnce ftIr usIng the AgIlent cAry 630 spectrometer

    Aplikace
    | 2014 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    IDENTIFYING NATURAL GEMS FROM SYNTHETIC AND TREATED COUNTERPARTS USING THE AGILENT CARY 660

    Aplikace
    | 2014 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Analysis of organic EL material by JMS-T100GC “AccuTOF GC” - comparison of FD and DEI methods

    Aplikace
    | 2006 | JEOL
    GC/MSD, GC/TOF
    Instrumentace
    GC/MSD, GC/TOF
    Výrobce
    JEOL
    Zaměření
    Materiálová analýza

    AccuTOF GC series Applications Notebook

    Aplikace
    | 2016 | JEOL
    GC, GCxGC, GC/HRMS, SPME, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/TOF
    Instrumentace
    GC, GCxGC, GC/HRMS, SPME, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/TOF
    Výrobce
    Agilent Technologies, JEOL
    Zaměření
    Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Forenzní analýza a toxikologie, Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče, Ostatní

    Detection of molecular ions from OLED material using AccuTOF GC

    Aplikace
    | 2006 | JEOL
    GC/MSD, GC/TOF
    Instrumentace
    GC/MSD, GC/TOF
    Výrobce
    JEOL
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče

    Headspace Analysis of Solvents in Printed Paper

    Aplikace
    | N/A | SCION Instruments
    GC, GC kolony, Spotřební materiál
    Instrumentace
    GC, GC kolony, Spotřební materiál
    Výrobce
    SCION Instruments
    Zaměření
    Materiálová analýza

    CFC separation using Porous Polymer Material

    Aplikace
    | N/A | SCION Instruments
    GC, GC kolony, Spotřební materiál
    Instrumentace
    GC, GC kolony, Spotřební materiál
    Výrobce
    SCION Instruments
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quantifying "Silent Change" Using EDXIR-Analysis Software: EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

    Aplikace
    | 2017 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Understanding RoHS

    Technické články
    | 2006 | Shimadzu
    Instrumentace
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024

    Út, 14.5.2024
    Altium International

    Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru

    Po, 13.5.2024
    ANALYTIKA

    Pozvánka na Laborexpo - stánek SHIMADZU

    Ne, 12.5.2024
    SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.