Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Regulatory Calculations Using the Spectral Evaluation Function: Evaluating Spectacle Lenses as Specified by JIS T7333
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
The deep ultraviolet spectroscopic properties of a next-generation photoresist
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
EDXRF Analysis of PM2.5 (Particle Matter)
Aplikace
| 2013 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Automated, high sensitivity analysis of single nanoparticles using the Agilent 7900 ICP-MS with Single Nanoparticle Application Module
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
UPF Evaluation of Fabric Products such as Functional Masks
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
High-Speed X-Ray Diffraction Analysis of Asbestos (Chrysotile) Using Wide-Range High-Speed Detector "OneSight"
Aplikace
| 2014 | Shimadzu
XRD
Instrumentace
XRD
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.