ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Aplikace z oblasti Materiálová analýza - strana 1

CUSTOMER SUCCESS STORY

Ostatní
| N/A | Anton Paar
Reometrie
Instrumentace
Reometrie
Výrobce
Anton Paar
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of Plastic Pellets (Carriers for Water Treatment) Using FTIR and EDX

Aplikace
| 2019 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Shimadzu Journal Vol. 02 - Material Science

Ostatní
| 2014 | Shimadzu
Mechanické zkoušky, Mikroskopie, GPC/SEC, MALDI, LC/MS, LC/TOF
Instrumentace
Mechanické zkoušky, Mikroskopie, GPC/SEC, MALDI, LC/MS, LC/TOF
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

PDF Parts for HTK 1200N

Brožury a specifikace
| 2020 | Anton Paar
X-ray, Spotřební materiál
Instrumentace
X-ray, Spotřební materiál
Výrobce
Anton Paar
Zaměření
Materiálová analýza

Analyzing ore concentrates and grade control with handheld XRF

Aplikace
| 2024 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza

Slurry analysis and sampling systems

Brožury a specifikace
| 2023 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie

XRD and XRF investigation of Martian analog basalt from terrestrial craters

Aplikace
| 2018 | Thermo Fisher Scientific
X-ray, XRD
Instrumentace
X-ray, XRD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie

Composite thermal damage – correlation of short beam shear data with FTIR spectroscopy

Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control

Technické články
| 2024 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards

Aplikace
| 2018 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.