ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Measuring optical filters

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    The deep ultraviolet spectroscopic properties of a next-generation photoresist

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče

    Measurement and Control of Copper Additives in Electroplating Baths by High-Performance Liquid Chromatography

    Aplikace
    | 2016 | Thermo Fisher Scientific
    HPLC
    Instrumentace
    HPLC
    Výrobce
    Thermo Fisher Scientific
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Overcoming the Challenges Facing the Development and Supply of Advanced Lithographic Materials (Photoresist) for the Semiconductor Industry with ACQUITY UPC2

    Aplikace
    | 2012 | Waters
    SFC
    Instrumentace
    SFC
    Výrobce
    Waters
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Measuring the Performance of Compact Visual Displays

    Aplikace
    | 2021 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Compositional Analysis of Merck E7 Liquid Crystal Intermediates Using UltraPerformance Convergence Chromatography (UPC2) with PDA Detection

    Aplikace
    | 2013 | Waters
    SFC
    Instrumentace
    SFC
    Výrobce
    Waters
    Zaměření
    Materiálová analýza

    The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče

    Agilent ICP-MS Journal (October 2013 – Issue 55)

    Ostatní
    | 2013 | Agilent Technologies
    HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí, Materiálová analýza, Klinická analýza

    Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024

    Út, 14.5.2024
    Altium International

    Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru

    Po, 13.5.2024
    ANALYTIKA

    Pozvánka na Laborexpo - stánek SHIMADZU

    Ne, 12.5.2024
    SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.