Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Composite thermal damage – correlation of short beam shear data with FTIR spectroscopy
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Ceramic Composite Materials with Double-Shot Pyrolyzer and Peripheral Devices Part 2 : Data Analysis by EGA-MS with Mass Chromatogram Method
Aplikace
| N/A | Frontier Lab
GC/MSD, Termální desorpce, Pyrolýza
Instrumentace
GC/MSD, Termální desorpce, Pyrolýza
Výrobce
Frontier Lab
Zaměření
Materiálová analýza
The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
Aplikace
| N/A | ZOEX/JSB
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Výrobce
JEOL, ZOEX/JSB
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector
Brožury a specifikace
| 2016 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Shimadzu FTIR talk letter Vol. 30
Ostatní
| 2019 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Quantifying "Silent Change" Using EDXIR-Analysis Software: EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Optical Characterization of Thin Films
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Exploring the relationship between ergonomics and measurement quality in handheld FTIR spectrometers