Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Agilent ASMS 2020 Posters Book
Postery
| 2020 | Agilent Technologies (ASMS)
GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, HeadSpace, Příprava vzorků, GC/SQ, GC/Q-TOF, Iontová mobilita, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, LC/SQ
Instrumentace
GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, HeadSpace, Příprava vzorků, GC/SQ, GC/Q-TOF, Iontová mobilita, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, LC/SQ
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Forenzní analýza a toxikologie, Farmaceutická analýza, Proteomika, Materiálová analýza, Klinická analýza
WCPS: Accurate determination of Eu, and Sm in ultra-pure barium carbonate materials by ICP-QQQ
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
EDXRF Analysis of Cd and Pb
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Application of Spatially Offset Raman Spectroscopy to In-Container Testing of Raw Materials for PIC/S GMP Annex 8 Using the Agilent RapID Raman System
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Single particle analysis of nanomaterials with agilent ICP-MS
Postery
| N/A | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Identifying polymers with Raman spectroscopy
Aplikace
| N/A | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
WCPS: Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 MP-AES
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
WCPS: Determination of ultra-trace level impurities in high-purity metal samples by ICP-QQQ
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.