Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Electronics & Chemicals - Application Notebook
Příručky
| 2019 | Shimadzu
GC, GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, Termální desorpce, Purge and Trap, Pyrolýza, GC/SQ, GC/QQQ, GC kolony, Spotřební materiál, Software, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie, Fluorescenční spektroskopie, Mikroskopie, X-ray
Instrumentace
GC, GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, Termální desorpce, Purge and Trap, Pyrolýza, GC/SQ, GC/QQQ, GC kolony, Spotřební materiál, Software, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie, Fluorescenční spektroskopie, Mikroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu, Frontier Lab
Zaměření
Průmysl a chemie, Nebezpečné látky, Materiálová analýza
Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device
Brožury a specifikace
| 2022 | Shimadzu
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Instrumentace
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Understanding RoHS
Technické články
| 2006 | Shimadzu
Instrumentace
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
The Determination of Hazardous Substances According to RoHS and WEEE Directives
Aplikace
| N/A | Shimadzu
AAS, X-ray
Instrumentace
AAS, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Monitoring Heavy Metals by ICP- OES for Compliance with RoHS and WEEE Directives
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Determination of hazardous substances according to RoHS
Ostatní
| 2005 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Raman Spectroscopy for Quick Quality Analysis of Diamond Membranes
Aplikace
| 2008 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.