Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Handbook of ICP-QQQ Applications using the Agilent 8800 and 8900
Příručky
| 2022 | Agilent Technologies
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies, Elemental Scientific
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Farmaceutická analýza, Materiálová analýza, Polovodiče, Klinická analýza
Automated Extraction and GC/MS Determination of Phthalates in Consumer Products
Aplikace
| 2013 | GERSTEL
GC/MSD, Příprava vzorků, GC/SQ
Instrumentace
GC/MSD, Příprava vzorků, GC/SQ
Výrobce
Agilent Technologies, GERSTEL
Zaměření
Materiálová analýza, Ostatní
High-Speed Mapping Measurement of Micro Sample Using IRXross™/AIM-9000
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Quantitation of Four Regulated Phthalates in Plastic Consumer Products by Gas Chromatography– Time-of-Flight Mass Spectrometry
Aplikace
| 2018 | LECO
GC/MSD, GC/TOF
Instrumentace
GC/MSD, GC/TOF
Výrobce
Agilent Technologies, LECO
Zaměření
Materiálová analýza, Ostatní
Quantification of cotton content in textiles by near-infrared spectroscopy
Aplikace
| 2024 | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Using a MS library to differentiate black ballpoint pen inks by Py-GC/MS
Aplikace
| N/A | Frontier Lab
GC/MSD, Pyrolýza, Software
Instrumentace
GC/MSD, Pyrolýza, Software
Výrobce
Frontier Lab
Zaměření
Materiálová analýza
The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
Aplikace
| N/A | ZOEX/JSB
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Výrobce
JEOL, ZOEX/JSB
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.