ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Analysis of Low-level Polycyclic Aromatic Hydrocarbons (PAHs) in Rubber and Plastic Articles Using Agilent J&W DB-EUPAH GC column

    Aplikace
    | 2010 | Agilent Technologies
    GC/MSD, GC/SQ, GC kolony, Spotřební materiál
    Instrumentace
    GC/MSD, GC/SQ, GC kolony, Spotřební materiál
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Determination of finish on nylon fibers by near-infrared spectroscopy

    Aplikace
    | N/A | Metrohm
    NIR Spektroskopie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie
    Výrobce
    Metrohm
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Material Characterization in the Automotive Industry Using Multi-Mode Pyrolysis GC/MS

    Příručky
    | N/A | Frontier Lab
    GC/MSD, Termální desorpce, Pyrolýza
    Instrumentace
    GC/MSD, Termální desorpce, Pyrolýza
    Výrobce
    Frontier Lab
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

    Aplikace
    | 2022 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Analysis of lignin in wood pulp

    Aplikace
    | N/A | Metrohm
    NIR Spektroskopie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie
    Výrobce
    Metrohm
    Zaměření
    Materiálová analýza

    The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste

    Aplikace
    | N/A | ZOEX/JSB
    GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
    Instrumentace
    GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
    Výrobce
    JEOL, ZOEX/JSB
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče

    Analysis of chemicals using near-infrared spectroscopy

    Příručky
    | N/A | Metrohm
    NIR Spektroskopie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie
    Výrobce
    Metrohm
    Zaměření
    Životní prostředí, Průmysl a chemie, Materiálová analýza

    A New Purge Tool for Use with Automated Headspace Analysis

    Aplikace
    | 2008 | GERSTEL
    HeadSpace, GC/SQ
    Instrumentace
    HeadSpace, GC/SQ
    Výrobce
    Agilent Technologies, GERSTEL
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Automotive interior VOC and FOG emissions

    Aplikace
    | 2020 | Thermo Fisher Scientific
    GC/MSD, Termální desorpce, GC/SQ
    Instrumentace
    GC/MSD, Termální desorpce, GC/SQ
    Výrobce
    Thermo Fisher Scientific, Markes
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Nový systém čištění vody ELGA Purelab Flex

    St, 8.5.2024
    Česká voda – MEMSEP, a.s.

    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International

    LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)

    Čt, 16.5.2024
    LabRulez
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.