Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

Brožury a specifikace

| 2016 | Shimadzu

FTIR Spektroskopie, X-ray

Instrumentace

FTIR Spektroskopie, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Identification of Microplastics with Portable Raman Microscopy

Aplikace

| 2020 | Metrohm

RAMAN Spektrometrie, Mikroskopie

Instrumentace

RAMAN Spektrometrie, Mikroskopie

Výrobce

Metrohm

Zaměření

Životní prostředí, Materiálová analýza

Confirmation of Raw Material Quality - Dealing with "Silent Change" Counterfeiting

Aplikace

| 2015 | Shimadzu

FTIR Spektroskopie, X-ray

Instrumentace

FTIR Spektroskopie, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Lead in Bismuth Bronze - Matrix Elements/Profile Correction and Comparison with AA

Aplikace

| 2017 | Shimadzu

AAS, X-ray

Instrumentace

AAS, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Comparison of Calibration Curves of Lead, Cadmium and Chromium in Zinc Alloy and Copper Alloy

Aplikace

| N/A | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Cleanliness Evaluation of Orthopedic Implants Using TOC

Aplikace

| 2019 | Shimadzu

TOC

Instrumentace

TOC

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Introducing the XSeeker 8000 Bench-Top X-Ray CT System

Technické články

| 2023 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Measuring the reflectance of very small samples using the Agilent Cary 60 Remote Diffuse Reflectance Accessory (DRA)

Aplikace

| 2012 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Determination of Elemental Impurities in Graphite-based Anodes using the Agilent 5110 ICP-OES

Aplikace

| 2019 | Agilent Technologies

ICP/OES

Instrumentace

ICP/OES

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

Identification of Microplastics with Portable Raman Microscopy

Confirmation of Raw Material Quality - Dealing with "Silent Change" Counterfeiting

Quantitative Analysis of Lead in Bismuth Bronze - Matrix Elements/Profile Correction and Comparison with AA

Comparison of Calibration Curves of Lead, Cadmium and Chromium in Zinc Alloy and Copper Alloy

Cleanliness Evaluation of Orthopedic Implants Using TOC

Introducing the XSeeker 8000 Bench-Top X-Ray CT System

Measuring the reflectance of very small samples using the Agilent Cary 60 Remote Diffuse Reflectance Accessory (DRA)

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Determination of Elemental Impurities in Graphite-based Anodes using the Agilent 5110 ICP-OES

Mohlo by Vás zajímat

Nový systém čištění vody ELGA Purelab Flex

FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)