ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Monitoring Heavy Metals by ICP- OES for Compliance with RoHS and WEEE Directives

    Aplikace
    | 2010 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    EDXRF Analysis of Chromium, Lead and Cadmium in Metals (Brass)

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    EDXRF Analysis of Chromium, Mercury, Bromine, Lead and Cadmium in Plastic Materials

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Comparison of Calibration Curves of Lead, Cadmium and Chromium in Zinc Alloy and Copper Alloy

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Elemental Analysis of Pure Metals and Alloys by Femtosecond Laser Ablation (LA-)ICP-MS

    Aplikace
    | 2022 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Ceramic Analysis by EDXRF

    Aplikace
    | 2019 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    High-Speed Mapping Measurement of Micro Sample Using IRXross™/AIM-9000

    Aplikace
    | 2022 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    WCPS: Determination of ultra-trace level impurities in high-purity metal samples by ICP-QQQ

    Postery
    | 2017 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    WCPS: Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 MP-AES

    Postery
    | 2017 | Agilent Technologies
    MP/ICP-AES
    Instrumentace
    MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    ANALYSIS OF EXTRACTABLE AND LEACHABLE METALS IN PLASTIC MATERIALS OF CONSTRUCTION AS PER USP <661.1> ACID EXTRACTION PROCEDURE USING THE AGILENT 5110 VDV ICP-OES

    Aplikace
    | 2016 | Agilent Technologies
    LC/Orbitrap, ICP/OES
    Instrumentace
    LC/Orbitrap, ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International

    Metrohm: Obchodní a aplikační specialista

    Ne, 5.5.2024
    Metrohm Česká republika

    Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024

    Út, 14.5.2024
    Altium International
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.