Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Portable Raman Spectroscopy for Art & Archaeology Applications
Technické články
| 2020 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Mix Ratio Identification in Industrially Significant Two-Part Coating Systems Using the Agilent 4300 Handheld FTIR
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Solutions for Children’s Product Testing
Technické články
| 2010 | Agilent Technologies
GC/MSD, GC/IT, ICP/OES
Instrumentace
GC/MSD, GC/IT, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Epichlorohydrin Dissolved from Metal Food Cans by GC
Aplikace
| N/A | Shimadzu
GC
Instrumentace
GC
Výrobce
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Materiálová analýza
Quantification of Release Agent on a Carbon-Fiber-Reinforced Polymer using a Hand-Held FTIR
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700
Aplikace
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
A fast, cost-effective HS-GC-FID method for the analysis of ethylene oxide in surgical-style face masks
Aplikace
| 2020 | Thermo Fisher Scientific
GC, HeadSpace
Instrumentace
GC, HeadSpace
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Non-Destructive Analysis of Substrates and Contaminants by FTIR with Specular Reflectance Interface
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
Aplikace
| N/A | ZOEX/JSB
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Výrobce
JEOL, ZOEX/JSB
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.