ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Inspection of Defects in an Automotive Inverter Component with X-Ray Inspection System

    Aplikace
    | 2023 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Graphene Raman Analyzer: Carbon Nanomaterials Characterization

    Technické články
    | 2017 | Metrohm
    RAMAN Spektrometrie
    Instrumentace
    RAMAN Spektrometrie
    Výrobce
    Metrohm
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Evaluating the Quantity of CO2 Absorbed in Concrete by TOC Solid Sample Measurement System

    Aplikace
    | 2022 | Shimadzu
    TOC
    Instrumentace
    TOC
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    FTIR and UV-Vis Technology for Art Conservation

    Ostatní
    | 2015 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Characterization of Biodegradable and Oxo-Biodegradable Plastic Bags

    Aplikace
    | 2020 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Multilayer packaging material analysis using Laser Direct Infrared (LDIR) Imaging

    Aplikace
    | 2018 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Cobalt content, solids content, specific gravity, and viscosity in cobalt octoate

    Aplikace
    | N/A | Metrohm
    NIR Spektroskopie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie
    Výrobce
    Metrohm
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

    Aplikace
    | 2020 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče

    Measuring optical filters

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Positive and Nondestructive Identification of Acrylic-Based Coatings

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Představení nového ICP‑MS 7900: jedinečná technologie a výkon

    Út, 28.5.2024
    Altium International

    Najděte svou vysněnou práci v analytické chemii s LabRulez KARIÉRA!

    Ne, 26.5.2024
    LabRulez

    LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)

    Čt, 16.5.2024
    LabRulez
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.