Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(5)
Forenzní analýza a toxikologie
(1)
Klinická analýza
(3)
Materiálová analýza
Materiálová analýza
Instrumentace
AAS
(6)
FTIR Spektroskopie
(29)
Fluorescenční spektroskopie
(1)
ICP/MS
(19)
Výrobce
Agilent Technologies
(56)
Elemental Scientific
(1)
Metrohm
(16)
Shimadzu
(45)
Autor
Agilent Technologies
(56)
Metrohm
(16)
Shimadzu
(45)
Thermo Fisher Scientific
(3)
Typ Publikace
Aplikace
(77)
Brožury a specifikace
(9)
Manuály
(1)
Ostatní
(8)
Rok vydání
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Determining the effects of angle on the infra-red reflectance properties of thin films in architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
RoHS Screening Analysis by EDX
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
EDXRF and WDXRF Analysis of Cd
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Quantitative Analysis of Tin (Sn) in Plastics by EDXRF
Aplikace
| 2013 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Quantitative Analysis of Lead in Bismuth Bronze - Matrix Elements/Profile Correction and Comparison with AA
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
AAS, X-ray
Instrumentace
AAS, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
EDXRF Analysis of Lead, Cadmium, Silver, Copper in Lead-Free Solder Materials
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
High-Speed X-Ray Diffraction Analysis of Asbestos (Chrysotile) Using Wide-Range High-Speed Detector "OneSight"
Aplikace
| 2014 | Shimadzu
XRD
Instrumentace
XRD
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Agilent ICP-MS Journal (May 2005 – Issue 23)
Ostatní
| 2005 | Agilent Technologies
ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Measuring Concentrations of CO and CO2 in a Metal Wire Heat Treatment Furnace
Aplikace
| 2024 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
EDXRF Analysis of Lead in Lead-Free Solder Materials
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024
Út, 14.5.2024
Altium International
Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru
Po, 13.5.2024
ANALYTIKA
Pozvánka na Laborexpo - stánek SHIMADZU
Ne, 12.5.2024
SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.