ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Verifying Raw Materials by Spatially Offset Raman Spectroscopy

    Technické články
    | 2018 | Agilent Technologies
    RAMAN Spektrometrie
    Instrumentace
    RAMAN Spektrometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Agilent RapID Raman

    Brožury a specifikace
    | 2020 | Agilent Technologies
    RAMAN Spektrometrie
    Instrumentace
    RAMAN Spektrometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Analysis of steel and its alloys using the GB/T 20125-2006 standard and an Agilent 5100 ICP-OES in dual view mode

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Materiálová analýza

    Through-Container Identity Verification of Polysorbates 20, 40, 60, and 80 with the Agilent RapID Raman System

    Aplikace
    | 2018 | Agilent Technologies
    RAMAN Spektrometrie
    Instrumentace
    RAMAN Spektrometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Understanding RoHS

    Technické články
    | 2006 | Shimadzu
    Instrumentace
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Observation of Wireless Earphones Using a Microfocus X-ray Inspection System

    Aplikace
    | 2023 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Confirmation of Raw Material Quality - Dealing with "Silent Change" Counterfeiting

    Aplikace
    | 2015 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Reaction Tracking of UV-Curable Resin by Rapid Scan

    Aplikace
    | 2022 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Představení nového ICP‑MS 7900: jedinečná technologie a výkon

    Út, 28.5.2024
    Altium International

    Najděte svou vysněnou práci v analytické chemii s LabRulez KARIÉRA!

    Ne, 26.5.2024
    LabRulez

    Podcast CHEmic #30 – Objeví se tropické nemoci i v Česku? Lék na ně hledá Evžen Bouřa z ÚOCHB

    Čt, 6.6.2024
    Ústav organické chemie a biochemie AV ČR
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.