Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
ADVANCED SOLUTIONS FOR POLYMERS AND PLASTICS
Postery
| 2017 | PerkinElmer
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, GC/SQ, HPLC, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ
Instrumentace
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, GC/SQ, HPLC, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ
Výrobce
PerkinElmer
Zaměření
Materiálová analýza
FTIR and UV-Vis Technology for Art Conservation
Ostatní
| 2015 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Solutions for Plastic Evaluation
Příručky
| 2013 | Shimadzu
Termální analýza, GC/SQ, LC/SQ, LC/MS, LC/TOF, GC/MSD, MALDI, GC, HeadSpace, HPLC, LC/IT
Instrumentace
Termální analýza, GC/SQ, LC/SQ, LC/MS, LC/TOF, GC/MSD, MALDI, GC, HeadSpace, HPLC, LC/IT
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Rechargeable Lithium-Ion Battery Evaluation
Brožury a specifikace
| 2017 | Shimadzu
GC, GC/MSD, GC/SQ, HPLC, ICP/MS, ICP/OES, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, XRD
Instrumentace
GC, GC/MSD, GC/SQ, HPLC, ICP/MS, ICP/OES, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, XRD
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Shimadzu Journal Vol. 02 - Material Science
Ostatní
| 2014 | Shimadzu
MALDI, LC/TOF, LC/MS, GPC/SEC, Mikroskopie
Instrumentace
MALDI, LC/TOF, LC/MS, GPC/SEC, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
ART CONSERVATION WITH DESI MS IMAGING: DIRECT MAPPING OF COMPOUND LOCALIZATION ON WOOD SAMPLES
Postery
| 2023 | Waters (ASMS)
Iontová mobilita, MS Imaging, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS
Instrumentace
Iontová mobilita, MS Imaging, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS
Výrobce
Waters
Zaměření
Materiálová analýza
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.