Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Orientation Measurement of Polymers
Aplikace
| 2020 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Multilayer Film Analysis Using the AIMsight Infrared Microscope
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
CFRP Analysis, Testing and Inspection Evaluation Instruments
Brožury a specifikace
| 2015 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Determination of Elements in Ternary Material Nickel-Cobalt-Manganese Hydride
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Solutions for Plastic Evaluation
Příručky
| 2013 | Shimadzu
GC, GC/MSD, HeadSpace, GC/SQ, MALDI, HPLC, LC/TOF, LC/MS, LC/SQ, LC/IT
Instrumentace
GC, GC/MSD, HeadSpace, GC/SQ, MALDI, HPLC, LC/TOF, LC/MS, LC/SQ, LC/IT
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
FTIR and UV-Vis Technology for Art Conservation
Ostatní
| 2015 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Rapid Raw Material Identification for Formulation Compounds Using Handheld Raman Technology
Aplikace
| N/A | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.