Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Method Development for a Simple and Reliable Determination of PCBs in Mineral Insulating Oil by SPME-GC-ECD
Aplikace
| 2013 | Thermo Fisher Scientific
GC, SPME
Instrumentace
GC, SPME
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Comparison of Standard Liquid Extraction and Direct Thermal Desorption GC/MS Techniques for the Analysis of Charcoal Filters used for Indoor Air Purification in a PCB Contaminated Building
Aplikace
| 1996 | GERSTEL
GC/MSD, Termální desorpce, GC/SQ
Instrumentace
GC/MSD, Termální desorpce, GC/SQ
Výrobce
Agilent Technologies, GERSTEL
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Product Catalogue ALS EUROPE (WASTE)
Brožury a specifikace
| N/A | ALS Europe
GC, GC/MSD, GC/HRMS, ICP/OES, Elektrochemie
Instrumentace
GC, GC/MSD, GC/HRMS, ICP/OES, Elektrochemie
Výrobce
Zaměření
Životní prostředí, Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Ostatní
Characterization of Fluoropolymers Using FTIR and TG-DTA to Support the Growth of 5G
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, Thermal analysis
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Thermal analysis
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Fast GC PAH Analysis by ZB-PAH-EU and ZB-PAH-SeleCT
Brožury a specifikace
| 2020 | Phenomenex
GC kolony, Spotřební materiál
Instrumentace
GC kolony, Spotřební materiál
Výrobce
Phenomenex
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Materiálová analýza
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Analysis of Volatiles from Printed Circuit Boards
Aplikace
| N/A | CDS Analytical
GC/MSD, Termální desorpce, GC/SQ
Instrumentace
GC/MSD, Termální desorpce, GC/SQ
Výrobce
Agilent Technologies, CDS Analytical
Zaměření
Materiálová analýza
The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
Aplikace
| N/A | ZOEX/JSB
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Výrobce
JEOL, ZOEX/JSB
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
5973 Inert Performance Electronics: Considerations for GC/MS Methods in Scan and Selective-Ion Monitoring Modes
Technické články
| 2004 | Agilent Technologies
GC/MSD
Instrumentace
GC/MSD
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Forenzní analýza a toxikologie, Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.