Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Spectroelectrochemistry Applications Book
Příručky
| 2022 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Determination of hazardous substances in electrical and electronic equipment
Postery
| N/A | Metrohm
Iontová chromatografie
Instrumentace
Iontová chromatografie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Controlling the Swelling of Polymer Coated Gold Nanoparticles
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Measuring the reflectance of very small samples using the Agilent Cary 60 Remote Diffuse Reflectance Accessory (DRA)
Aplikace
| 2012 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Polymers and Rubbers Application Compendium
Příručky
| 2010 | Agilent Technologies
HPLC, LC/MS, SFC, GPC/SEC, LC/SQ, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
HPLC, LC/MS, SFC, GPC/SEC, LC/SQ, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.