Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Aplikace

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Lead in Bismuth Bronze - Matrix Elements/Profile Correction and Comparison with AA

Aplikace

| 2017 | Shimadzu

AAS, X-ray

Instrumentace

AAS, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Agilent Solutions for Lithium-Ion Battery Industry

Brožury a specifikace

| 2020 | Agilent Technologies

GC, GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/SQ, GC/Q-TOF, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie

Instrumentace

GC, GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/SQ, GC/Q-TOF, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Průmysl a chemie, Materiálová analýza

EDXRF Analysis of Polymer Film

Aplikace

| N/A | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Fluorine by EDXRF: Powder and Fluorine-Containing Fil

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

EDX-7200 New Primary Filter - Quantitative Analysis of Titanium Dioxide in Antibacterial Coatings

Aplikace

| 2023 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Quantifying "Silent Change" Using EDXIR-Analysis Software: EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

Aplikace

| 2017 | Shimadzu

FTIR Spektroskopie, X-ray

Instrumentace

FTIR Spektroskopie, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

Brožury a specifikace

| 2016 | Shimadzu

FTIR Spektroskopie, X-ray

Instrumentace

FTIR Spektroskopie, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Agilent ICP-MS Journal (October 2013 – Issue 55)

Ostatní

| 2013 | Agilent Technologies

HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS

Instrumentace

HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Životní prostředí, Materiálová analýza, Klinická analýza

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Quantitative Analysis of Lead in Bismuth Bronze - Matrix Elements/Profile Correction and Comparison with AA

Agilent Solutions for Lithium-Ion Battery Industry

EDXRF Analysis of Polymer Film

Quantitative Analysis of Fluorine by EDXRF: Powder and Fluorine-Containing Fil

EDX-7200 New Primary Filter - Quantitative Analysis of Titanium Dioxide in Antibacterial Coatings

Quantifying "Silent Change" Using EDXIR-Analysis Software: EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

Agilent ICP-MS Journal (October 2013 – Issue 55)

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Mohlo by Vás zajímat

Aktualizace služeb: Úspěšná akreditace a rozšíření nabídky

Pozvánka na LABOREXPO & PROCESEXPO 2024

Aktuality v oblasti servisních služeb a zákaznických školení (M. Juříček) - NPI2023