Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

High-Speed Mapping Measurement of Micro Sample Using IRXross™/AIM-9000

Aplikace

| 2022 | Shimadzu

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Antimony (Sb) in Plastics by EDXRF

Aplikace

| 2012 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Near-infrared spectroscopy: Comparison of techniques

Technické články

| 2017 | Metrohm

NIR Spektroskopie

Instrumentace

NIR Spektroskopie

Výrobce

Metrohm

Zaměření

Materiálová analýza

The Migration of Elements from Toys and Speciation of Chromium (VI) in Toy Material Using a Low Cost IC-ICP-MS Solution

Aplikace

| 2016 | Thermo Fisher Scientific

Iontová chromatografie

Instrumentace

Iontová chromatografie

Výrobce

Thermo Fisher Scientific

Zaměření

Materiálová analýza

Analysis of plasma treated carbon fiber reinforced polymer (CFRP) composites by portable Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR)

Aplikace

| 2015 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

EDX-7200 New Primary Filter - Quantitative Analysis of Titanium Dioxide in Antibacterial Coatings

Aplikace

| 2023 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

A new approach to sample preparation free micro ATR FTIR chemical imaging of polymer laminates

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

WCPS: Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 MP-AES

Postery

| 2017 | Agilent Technologies

MP/ICP-AES

Instrumentace

MP/ICP-AES

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

High-Speed Mapping Measurement of Micro Sample Using IRXross™/AIM-9000

Quantitative Analysis of Antimony (Sb) in Plastics by EDXRF

Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films

Near-infrared spectroscopy: Comparison of techniques

The Migration of Elements from Toys and Speciation of Chromium (VI) in Toy Material Using a Low Cost IC-ICP-MS Solution

Analysis of plasma treated carbon fiber reinforced polymer (CFRP) composites by portable Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR)

EDX-7200 New Primary Filter - Quantitative Analysis of Titanium Dioxide in Antibacterial Coatings

A new approach to sample preparation free micro ATR FTIR chemical imaging of polymer laminates

WCPS: Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 MP-AES

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

Mohlo by Vás zajímat

FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024

CSSC & MSMS 2024 (Program konference, přednášející)