Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Analysis of Thermoset Resin Using Double-Shot Pyrolyzer and Peripheral Devices Part 1 : Evolved Gas Analysis (EGA) and Library Search with EGA-MS LIB
Aplikace
| N/A | Frontier Lab
GC/MSD, Termální desorpce, Pyrolýza
Instrumentace
GC/MSD, Termální desorpce, Pyrolýza
Výrobce
Frontier Lab
Zaměření
Materiálová analýza
Ion Exchange Resin Analysis by using Pyrolysis-GCxGC-MS
Aplikace
| 2018 | JEOL
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, Pyrolýza, GC/TOF
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, Pyrolýza, GC/TOF
Výrobce
JEOL
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Stereoregularity of Polymethyl Methacrylate (PMMA)
Aplikace
| N/A | Frontier Lab
Pyrolýza
Instrumentace
Pyrolýza
Výrobce
Frontier Lab
Zaměření
Materiálová analýza
Cobalt content, solids content, specific gravity, and viscosity in cobalt octoate
Aplikace
| N/A | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
High-Speed Mapping Measurement of Micro Sample Using IRXross™/AIM-9000
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Determination of short-chain branches in PVC by pyrolysis-hydrogenation-GC (Py-HGC)
Aplikace
| N/A | Frontier Lab
GC, Pyrolýza
Instrumentace
GC, Pyrolýza
Výrobce
Frontier Lab
Zaměření
Materiálová analýza
On-site detection of hexavalent chromium in protective paint primers
Technické články
| 2021 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Printer Toner Using Double-Shot Pyrolyzer and Peripheral Devices Part 2 : Analysis by Heart Cut EGA-GC/MS Technique
Aplikace
| N/A | Frontier Lab
GC/MSD, Termální desorpce, Pyrolýza
Instrumentace
GC/MSD, Termální desorpce, Pyrolýza
Výrobce
Frontier Lab
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of chemicals using near-infrared spectroscopy
Příručky
| N/A | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Životní prostředí, Průmysl a chemie, Materiálová analýza
The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste