ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Workflow for Migrating OLED Impurity Profiling from R&D to QC Setting with Solvent Compatible Mass Detector System

    Technické články
    | 2019 | Waters
    LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/SQ
    Instrumentace
    LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/SQ
    Výrobce
    Waters
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče

    Characterization of Lignin Sulfonate Using GPC/SEC

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    GPC/SEC
    Instrumentace
    GPC/SEC
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection

    Aplikace
    | 2022 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors

    Technické články
    | 2020 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Optical Characterization of Thin Films

    Aplikace
    | 2022 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

    Aplikace
    | 2020 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Use of High Speed/High Resolution Size-Based Chromatographic Separation of Polymeric Mixtures with Offline Infrared Detection

    Postery
    | 2016 | Waters
    GPC/SEC
    Instrumentace
    GPC/SEC
    Výrobce
    Waters
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Unattended, Automated Measurements of Optical Components in a Production Environment

    Technické články
    | 2018 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    The enhanced ultrafleXtreme - Industry Leading Performance for Polymer and Chemical Research

    Brožury a specifikace
    | 2020 | Bruker
    MALDI, MS Imaging, LC/TOF, LC/MS, LC/MS/MS
    Instrumentace
    MALDI, MS Imaging, LC/TOF, LC/MS, LC/MS/MS
    Výrobce
    Bruker
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International

    Metrohm: Obchodní a aplikační specialista

    Ne, 5.5.2024
    Metrohm Česká republika

    Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024

    Út, 14.5.2024
    Altium International
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.