Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Optical Characterization of Thin Films

Aplikace

| 2022 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

Aplikace

| 2022 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Micro-Raman Spectroscopy in Thin Section Analysis of Rock Mineralogy

Aplikace

| 2019 | Metrohm

RAMAN Spektrometrie

Instrumentace

RAMAN Spektrometrie

Výrobce

Metrohm

Zaměření

Materiálová analýza

X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)

Aplikace

| N/A | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Analysis of CIGS Solar Cell by ICPE-9000

Aplikace

| N/A | Shimadzu

MP/ICP-AES

Instrumentace

MP/ICP-AES

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Determining the effects of angle on the infra-red reflectance properties of thin films in architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR

Aplikace

| 2013 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures

Aplikace

| 2018 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Optical Characterization of Thin Films

Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy

Micro-Raman Spectroscopy in Thin Section Analysis of Rock Mineralogy

X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)

Analysis of CIGS Solar Cell by ICPE-9000

Determining the effects of angle on the infra-red reflectance properties of thin films in architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR

Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films

Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Mohlo by Vás zajímat

Nový systém čištění vody ELGA Purelab Flex

FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

Podcast CHEmic #27 – Je třeba změnit výuku chemie i učebnice, myslí si Adam Jaroš z ÚOCHB