Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
UltraPerformance Convergence Chromatography (UPC2) with MS Detection Using Three Different Atmospheric Pressure Ionization Techniques Using Liquid Crystal Intermediates as a Model
Aplikace
| 2013 | Waters
LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, SFC
Instrumentace
LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, SFC
Výrobce
Waters
Zaměření
Materiálová analýza
Water determination in various plastics
Postery
| N/A | Metrohm
Titrace Karl Fischer
Instrumentace
Titrace Karl Fischer
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Automated, unattended multi-angle transmission and absolute refl ection measurements on architectural and automotive glass using the Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS)
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Overcoming the Challenges Facing the Development and Supply of Advanced Lithographic Materials (Photoresist) for the Semiconductor Industry with ACQUITY UPC2
Aplikace
| 2012 | Waters
SFC
Instrumentace
SFC
Výrobce
Waters
Zaměření
Materiálová analýza
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Polystyrene analysis using MALDI-TOF MS
Aplikace
| 2020 | Bruker
MALDI, LC/TOF, LC/MS, LC/MS/MS
Instrumentace
MALDI, LC/TOF, LC/MS, LC/MS/MS
Výrobce
Bruker
Zaměření
Materiálová analýza
Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.